產(chǎn)品資料

    WBLZ-370電磁式及高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本

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    產(chǎn)品名稱: WBLZ-370電磁式及高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本
    產(chǎn)品型號: WBLZ-370
    產(chǎn)品展商: 其它
    產(chǎn)品文檔: *相關(guān)文檔

    簡單介紹

    本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可*損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。


    WBLZ-370電磁式及高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本  的詳細(xì)介紹
    產(chǎn)
    本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可*損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導(dǎo)電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
    內(nèi)置打印機(jī),可打印數(shù)據(jù),有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能。
    測定方法:電磁式及高頻渦流式 
    測定對象:磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上*緣層 
    測定范圍:電磁式:0~1500um或0~60.0mils 
    高頻式:0~800um或0~32.0mils 
    測定精度 電磁式:<15um±0.3um  >15um±2% 
    高頻式:<50um±1um    >50um±2% 
    分辨率:<100um 0.1um  >100um 1um 
    界限設(shè)定:可設(shè)定上/下限數(shù)值 
    測試單位:公/英制互換 
    顯示方式:LCD數(shù)顯 
    操作面板:密封*水按鍵 
    附屬品:鐵基體/鋁基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/皮套/說明書 
    電源:DV3V 主機(jī)5#堿性電池×6個(gè) 打印機(jī)5#堿性電池×4個(gè) 
    體積:80(W)×80(D)×30(H) 
    重量:1100g
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